Круглый стол: «Изменения процесса регистрации медицинских изделий с марта 2025 года»
Не пропустите шанс быть впереди всех и узнать о грядущих изменениях в регистрации медицинских изделий.
Почему вам стоит прийти:
Будьте первыми: узнайте о новых правилах, которые вступили в силу с марта 2025 года.
Интерактивные сессии: возможность задать любые вопросы нашим экспертам.
Ценные инсайты: получите информацию из первых уст для успешного ведения бизнеса.
Место: Московская торгово-промышленная палата, ул. Петровка, д. 15, стр. 1
Дата: 18 марта, 11:00 – 15:00
Внимание: регистрация обязательна! (https://mostpp.ru/events/kruglyy-stol/registratsiya-meditsinskikh-izdeliy-posle-1-marta-2025-goda/)
С нетерпением ждем встречи с вами!
Активно делимся информацией и опытом



Директор ИЛ "Симера-ТК" Андрей Антонов посетил всемирную фармацевтическую выставку CPHI & PMEC China 2024 в Шанхае.
Подробнее
Теперь мы можем проводить исследования на раздражающее действие по методике, указанной в новом нормативном документе!
Подробнее
На прошлой неделе состоялась встреча предпринимателей «Деловой России» с представителями ПАО «СИБУР Холдинг», на которой побывал руководитель ИЛ "Симера-ТК" Андрей Антонов. Мероприятие прошло в формате «Дня поставщика» — обсуждались вопросы взаимодействия и возможные направления сотрудничества компаний делороссов и СИБУРа.
Подробнее
Сообщаем, что испытательная лаборатория "Симера-ТК" успешно прошла первый этап проверки процедуры расширения области аккредитации и переходит ко второму этапу.
Подробнее
Приглашаем вас в наш ТГ-канал "Регистрационный вестник"
Подробнее
15 мая в Московской торгово-промышленной палате состоялся Круглый стол «Регистрация и проведение испытаний полного цикла медицинских изделий отечественного производства».
Подробнее
В настоящий момент в распоряжении нашей лаборатории есть все необходимые технологические средства для проведения испытаний полного цикла.
Подробнее
На территории лаборатории «Симера-ТК» есть отдельное здание вивария, оборудованное в соответствии с требованиями государственных стандартов.
Подробнее